研究称手机缺陷或致脑癌 无害论是一面之词(图)——中新网
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    研究称手机缺陷或致脑癌 无害论是一面之词(图)
2009年08月27日 09:30 来源:赛迪网  发表评论  【字体:↑大 ↓小
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  国际电磁辐射调查机构日前向政府递交的文件表明,手机的设计中存在的缺陷可能导致对用户大脑的损害。

  报告的结论表明:“手机用户有显著的脑癌风险。”在此之前的无害言论,完全基于政府和产业的一面之词,建立在EMR毫无生物影响的前提下。而手机设计的缺陷确实有可能对用户的健康造成损害。

【编辑:刘霏
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直隶巴人的原贴:
我国实施高温补贴政策已有年头了,但是多地标准已数年未涨,高温津贴落实遭遇尴尬。
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